Спектрометр универсальный рентгеновский СУР-01 РЕНОМ

НАЗНАЧЕНИЕ

Комплекс позволяет производить неразрушающий локальный анализ элементного и фазового состава вещества в твердых, порошкообразных, жидких, осажденных на пленках или фильтрах, пробах.

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ

• Экспертно-криминалистические центры
• Экологический контроль и мониторинг
• Таможенные экспертизы
• Научно-исследовательские институты и лаборатории
• Высшие учебные заведения
• Анализ фазового и элементного состава при создании новых современных материалов и технологий.
  
  СОСТАВ КОМПЛЕКСА
   
• Блок рентгеновского излучения,
• система коллимации и выбора микроучастков,
• дифрактометр (устройство углового сканирования для измерений дифракционных спектров и тракт регистрации дифрагировавшего излучения),
• спектрометр (тракт регистрации рентгенофлуоресцентного излучения),
• программное обеспечение.

Блок рентгеновского излучения разработан на основе рентгеновской трубки БСВ33 и высоковольтного источника питания с напряжением до 30 кВ. Мощность блока с трубкой Fe-анод - 75 Вт, с Cu-анод - 150 Вт.

Пучок рентгеновских квантов формируется системой коллимации состоящей из четырех подвижных щелей.
Оптические оси рентгеновского пучка, PIN-детектора рентгеновского излучения и микроскопа системы выбора микроучастков пересекаются в центре окружности, находящейся в плоскости системы регистрации дифрагировавшего излучения.
Система коллимации обеспечивает возможность локального исследования микроучастков размером 350х350 мкм на образце размером до 15 мм. При этом предусмотрена возможность вращения цилиндрических образцов и установка плоских и сыпучих образцов под любым углом к падающему рентгеновскому излучению.

Дифрактометр позволяет проводить измерения дифракционных спектров в геометрии Дебая-Шерера или Брэгга-Брентано. В дифракционной части комплекса применяется вертикальный гониометр и система сканирования с механическим делением угла. Регистрация дифрагировавшего излучения осуществляется сцинтилляционным или полупроводниковым (Si) детектором.
Флуоресцентное рентгеновское излучение регистрируется Si PIN-детектором (площадь 7 мм², толщина 300 мкм, Пельтье охлаждение), который имеет разрешение180 - 230 эВ по линии FeK_α 5.9 кэВ.

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Комплекс управляется компьютером. Программное обеспечение позволяет задавать рабочие режимы источника рентгеновского излучения, управлять шаговыми двигателями системы сканирования, регистрировать и обрабатывать флуоресцентные и дифракционные спектры, выводить полученные результаты в любом удобном для пользователя виде.
Программное обеспечение SmartXRF рентгенофлуоресцентной части комплекса позволяет производить качественный, полуколичественный (методом фундаментальных параметров), количественный (с применением стандартных образцов) и сравнительный анализ образцов.

Программное обеспечение дифракционной части позволяет производить измерение, обработку, поиск, определение положения и относительной интенсивности дифракционных пиков. Результаты представляются в виде таблицы или спектра по 2θ с рассчитанными значениями d/n и относительными интенсивностями линий.
Эти значения дифракционных спектров и результаты флуоресцентного анализа передаются в поисковую программу IPS6, в которой выполняется поиск карт в базах данных (ICDD) рентгенофазового анализа для определения структурного состояния вещества в образце. Таким образом, комплекс позволяет производить локальный рентгеновский микроанализ исследуемых образцов, определение концентраций элементов и структурное состояние веществ в образцах.